| 专利名称 |
零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法、装置及系统 |
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| 所属单位 |
智能科学与技术学院 |
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| 通讯地址 |
北京市西城区展览馆路1号 |
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| 联系人 |
科学技术发展研究院 |
电话 |
010-68322482 |
| 专利发明人 |
黎芳 |
专利号 |
CN201910451062.7 |
| 专利类型 |
发明授权 |
专利状态 |
授权且有效 |
| 专利简介 |
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本发明实施例提供一种零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法、装置及系统。其中,方法包括:根据零阶涡旋光束的光强图,获取光强矩阵;根据光强矩阵获取束腰半径和光强最大处的半径;根据束腰半径和光强最大处的半径,获取拓扑荷的测量结果。本发明实施例提供的零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法、装置及系统,通过对零阶涡旋光束的光强图进行数值处理,测量出零阶涡旋光束的拓扑荷,能获得精度更高的测量结果,能降低测量的成本,测量更加灵活、方便。
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