零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法、装置及系统


专利名称

零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法、装置及系统

所属单位

智能科学与技术学院

通讯地址

北京市西城区展览馆路1号

联系人

科学技术发展研究院

电话

010-68322482

专利发明人

黎芳

专利号

CN201910451062.7

专利类型

发明授权

专利状态

授权且有效

专利简介

本发明实施例提供一种零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法、装置及系统。其中,方法包括:根据零阶涡旋光束的光强图,获取光强矩阵;根据光强矩阵获取束腰半径和光强最大处的半径;根据束腰半径和光强最大处的半径,获取拓扑荷的测量结果。本发明实施例提供的零阶涡旋光束拓扑荷的测量方法、装置及系统,通过对零阶涡旋光束的光强图进行数值处理,测量出零阶涡旋光束的拓扑荷,能获得精度更高的测量结果,能降低测量的成本,测量更加灵活、方便。
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