一种基于FOD的壁画地仗磷酸盐含量高光谱预测方法


专利名称

一种基于FOD的壁画地仗磷酸盐含量高光谱预测方法

所属单位

环境与能源工程学院

通讯地址

北京市西城区展览馆路1号

联系人

科学技术发展研究院

电话

010-68322482

专利发明人

刘芳

专利号

CN202410155471.3

专利类型

发明授权

专利状态

授权且有效

专利简介

本发明公开了一种基于FOD的壁画地仗磷酸盐含量高光谱预测方法,涉及文物保护技术领域,包括步骤:制作壁画地仗样品;对壁画地仗样品进行不同浓度的磷酸盐侵蚀劣化并阴干后,测定其表面光谱反射率,得到不同浓度的磷酸盐侵蚀劣化的原始光谱反射率数据;对原始光谱反射率数据进行平滑、去噪处理,并将处理后的原始光谱反射率数据分为校准集、验证集;由FOD处理校准集,筛选通过显著性检测的波段;用通过显著性检测的波段和对应的壁画地仗样品的电导率建立基于FOD的壁画地仗磷酸盐偏最小二乘模型,对该模型进行评价,并找出最优模型,用该最优模型预测待测壁画地仗磷酸盐含量。本发明能精确反映壁画磷酸盐含量,提高壁画侵蚀行为分析的准确度和可靠性。
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