| 专利名称 |
一种基于FOD的壁画地仗磷酸盐含量高光谱预测方法 |
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| 所属单位 |
环境与能源工程学院 |
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| 通讯地址 |
北京市西城区展览馆路1号 |
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| 联系人 |
科学技术发展研究院 |
电话 |
010-68322482 |
| 专利发明人 |
刘芳 |
专利号 |
CN202410155471.3 |
| 专利类型 |
发明授权 |
专利状态 |
授权且有效 |
| 专利简介 |
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本发明公开了一种基于FOD的壁画地仗磷酸盐含量高光谱预测方法,涉及文物保护技术领域,包括步骤:制作壁画地仗样品;对壁画地仗样品进行不同浓度的磷酸盐侵蚀劣化并阴干后,测定其表面光谱反射率,得到不同浓度的磷酸盐侵蚀劣化的原始光谱反射率数据;对原始光谱反射率数据进行平滑、去噪处理,并将处理后的原始光谱反射率数据分为校准集、验证集;由FOD处理校准集,筛选通过显著性检测的波段;用通过显著性检测的波段和对应的壁画地仗样品的电导率建立基于FOD的壁画地仗磷酸盐偏最小二乘模型,对该模型进行评价,并找出最优模型,用该最优模型预测待测壁画地仗磷酸盐含量。本发明能精确反映壁画磷酸盐含量,提高壁画侵蚀行为分析的准确度和可靠性。
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